用X射线光电子能谱对热处理的四苯基钴卟啉修饰电极的表面表征

胡刚 许莉娟 董绍俊

引用本文: 胡刚, 许莉娟, 董绍俊. 用X射线光电子能谱对热处理的四苯基钴卟啉修饰电极的表面表征[J]. 物理化学学报, 1990, 6(06): 710-715. doi: 10.3866/PKU.WHXB19900614 shu
Citation:  Hu Gang, Xu Li-Juan, Dong Shao-Jun. SURFACE CHARACTERIZATION OF COBALT TETRAPHENYLPORPHYRIN MODIFIED GLASSY CARBON ELECTRODE BY XPS[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 1990, 6(06): 710-715. doi: 10.3866/PKU.WHXB19900614 shu

用X射线光电子能谱对热处理的四苯基钴卟啉修饰电极的表面表征

摘要: 本文用XPS、DTA和TG分析了四苯基钴卟啉化学修饰电极的热分解行为, 它不同于四苯基铁卟啉. 由XPS谱图揭示了四苯基钴卟啉与玻璃碳电极之间的相互作用, 进而阐述了经热处理的四苯基钴卟啉化学修饰电极的表面结构与电催化稳定性的关系. 从Co2p_3/2和2p_(1/2)能级的自旋分裂间距及其Shake-up伴峰, 了解经热处理后的四苯基钴卟啉修饰电极中钴自旋态变化, 并且从Co的L_3VV俄歇跃迁计算出Co的双电离能, 其双电离能与电催化活性有一定关系。

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  • 发布日期:  1990-12-15
  • 收稿日期:  1989-05-25
  • 网络出版日期:  1990-12-15
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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