COT-H在金属Ru表面上沉积的光电子能谱分析

施申蕾 楼辉 张建华 吕萍 江宁 何丕模 鲍世宁

引用本文: 施申蕾, 楼辉, 张建华, 吕萍, 江宁, 何丕模, 鲍世宁. COT-H在金属Ru表面上沉积的光电子能谱分析[J]. 物理化学学报, 2002, 18(01): 30-33. doi: 10.3866/PKU.WHXB20020107 shu
Citation:  Shi Shen-Lei, Lou Hui, Zhang Jian-Hua, Lü Ping, Jiang Ning, He Pi-Mo, Bao Shi-Ning. Investigation on the Interface between COT-H and Ru by UPS[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 2002, 18(01): 30-33. doi: 10.3866/PKU.WHXB20020107 shu

COT-H在金属Ru表面上沉积的光电子能谱分析

摘要: 采用紫外光电子能谱(UPS),分析了不对称四苯基四苯乙炔基环辛四烯(COTH)有机发光材料与金属之间的界面电子结构,研究了在金属/COTH界面上的逸出功变化.UPS谱中位于费米能级以下5.6、7.9和10.2 eV处的三个谱峰分别来自于COTH材料中苯环的πCC、σCC和σCH轨道.位于3.8 eV处的谱峰反映了八个苯环聚合后具有π轨道特性的C-C键.从UPS谱图中可以看到, COTH材料的最高占有态(HOS:highest occupied state)位于费米能级以下1.8 eV处.COTH材料的逸出功只有3.2 eV,比清洁Ru表面的逸出功小1.0 eV.角分辨紫外光电子能谱(ARUPS)的结果表明,组成COTH分子应该近似平行于衬底表面.

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  • 发布日期:  2002-01-15
  • 收稿日期:  2001-07-06
  • 网络出版日期:  2002-01-15
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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