集成X射线、TEM和STM的晶体学教学尝试

马宏伟 张芳 艾惠 张妞 彭绍春 李晖

引用本文: 马宏伟, 张芳, 艾惠, 张妞, 彭绍春, 李晖. 集成X射线、TEM和STM的晶体学教学尝试[J]. 大学化学, 2024, 39(3): 5-17. doi: 10.3866/PKU.DXHX202308107 shu
Citation:  Hongwei Ma,  Fang Zhang,  Hui Ai,  Niu Zhang,  Shaochun Peng,  Hui Li. Integrated Crystallographic Teaching with X-ray,TEM and STM[J]. University Chemistry, 2024, 39(3): 5-17. doi: 10.3866/PKU.DXHX202308107 shu

集成X射线、TEM和STM的晶体学教学尝试

    通讯作者: 马宏伟,Email:hwma@bit.edu.cn; 张芳,Email:fangzhang@bit.edu.cn; 艾惠,Email:hecibit@163.com
  • 基金项目:

    国家自然科学基金(21471017)

摘要: 以Si晶体为例,介绍了一种结合X-射线、电子显微学和扫描隧道显微技术进行晶体学教学的尝试。主要是从基本原理、实验技术、实验结果等方面建立不同方法之间的联系,也说明其区别。目的是使学生能依据基本的晶体学原理、概念和数据,理解不同的晶体结构分析和表征方法提供的晶体学信息之间的区别和联系,达到融会贯通的效果。

English

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  • 收稿日期:  2023-08-30
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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