电子诱导脱附研究钨表面O2对N2的置换吸附

张彤 吴强 胡安 毛福明 杨学谦

引用本文: 张彤, 吴强, 胡安, 毛福明, 杨学谦. 电子诱导脱附研究钨表面O2对N2的置换吸附[J]. 物理化学学报, 2003, 19(08): 686-688. doi: 10.3866/PKU.WHXB20030802 shu
Citation:  Zhang Tong, Wu Qiang, Hu An, Mao Fu-Ming, Yang Xue-Qian. Study of Displacement Adsorption of N2 by O2 on Surface of Polycrystalline W via Threshold Energy of Electron-stimulated Desorption[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 2003, 19(08): 686-688. doi: 10.3866/PKU.WHXB20030802 shu

电子诱导脱附研究钨表面O2对N2的置换吸附

摘要: 实验测量了室温高真空条件下,多晶W表面O2和N2的电子诱导脱附(ESD)阈值能量.O2-W吸附对的ESD能量约为15.5 eV, N2-W吸附对的ESD能量约为13.8 eV.实验结果具有良好的可重复性.利用ESD阈值能量研究了多晶W表面O2对N2的置换吸附过程,表明在一定的时间间隔内,O2可以置换吸附在多晶W表面的N2,且该过程不可逆.对实验结果进行了分析.

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  • 发布日期:  2003-08-15
  • 收稿日期:  2002-11-25
  • 网络出版日期:  2003-08-15
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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