测定晶体结构的系统试差法

侯永庚 陈稚芳 傅亨

引用本文: 侯永庚, 陈稚芳, 傅亨. 测定晶体结构的系统试差法[J]. 物理化学学报, 1989, 5(01): 76-80. doi: 10.3866/PKU.WHXB19890116 shu
Citation:  Hou Yong-Geng, Chen Zhi-Fang, Fu Heng. Sestem Trial and Error Method for Crystal Structure Determination[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 1989, 5(01): 76-80. doi: 10.3866/PKU.WHXB19890116 shu

测定晶体结构的系统试差法

摘要: 本文提出了一种测定晶体结构位相的系统试差法。它是根据未知反射和已知反射间的相互关系, 按照概率上可测的条件, 把它们划分为可测系统, 并在Sayre公式的基础上建立可测系统的位相超解方程, 再以试差法求解, 从整体上求得未知反射的位相。该方法的特点是可以控制误差和单解。它不仅适用于一般中小分子结构的测定, 也可能为难解结构和大分子结构测定开辟一条新的途径。

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  • 发布日期:  1989-02-15
  • 收稿日期:  1987-05-11
  • 网络出版日期:  1989-02-15
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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