两种表征金属有机双层膜络合和金属薄膜氧化反应动力学的方法

钟澄 蒋益明 罗宇峰 廖家兴 吴玮巍 李劲

引用本文: 钟澄, 蒋益明, 罗宇峰, 廖家兴, 吴玮巍, 李劲. 两种表征金属有机双层膜络合和金属薄膜氧化反应动力学的方法[J]. 物理化学学报, 2006, 22(06): 696-700. doi: 10.1016/S1872-1508(06)60029-6 shu
Citation:  ZHONG Cheng, JIANG Yi-Ming, LUO Yu-Feng, LIAO Jia-Xing, WU Wei-Wei, LI Jin. Two New Methods for Characterizing the Kinetics of the Complexation of Metal/Organic Thin Films and Oxidation of Metal Thin Films[J]. Acta Physico-Chimica Sinica, 2006, 22(06): 696-700. doi: 10.1016/S1872-1508(06)60029-6 shu

两种表征金属有机双层膜络合和金属薄膜氧化反应动力学的方法

摘要: 建立了两种新的薄膜反应动力学表征方法, 即透射光谱法和方块电阻法, 以克服传统动力学表征手段在薄膜体系氧化与络合反应过程中应用的局限性. 以透射光谱为表征手段, 得到了Ag/TCNQ(四氰基对醌二甲烷)金属有机双层薄膜的络合反应动力学曲线; 以方块电阻为表征手段, 得到了Cu薄膜的氧化反应动力学过程.

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  • 发布日期:  2006-05-31
  • 收稿日期:  2005-11-11
  • 网络出版日期:  2006-05-31
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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